【新品發(fā)布】InCiTe 2.0立式Micro CT
- 分類(lèi)：新聞中心
- 作者：Tansi
- 來(lái)源：
- 發(fā)布時(shí)間：2024-12-17 17:17
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【概要描述】 加拿大KA Imaging公司近期研發(fā)推出的inCiTe 2.0立式3D X射線(xiàn)顯微鏡（Micro CT）是一款先進(jìn)的微型計算機斷層掃描系統，專(zhuān)為科研和工業(yè)應用而設計，能夠提供高分辨率、高細節的非破壞性檢測成像。該設備具有兩種X射線(xiàn)探測器選項：BrillianSe直接轉換探測器或Reveal平板探測器，采用可更換的模塊化設計，實(shí)現創(chuàng )新的相位對比成像或光譜成像功能。 特點(diǎn)和應用 1. 相襯成像： 適用于低密度材料或細微結構差異的檢測，例如聚合物或生物組織。 提高了傳統X射線(xiàn)技術(shù)難以捕捉的細節可見(jiàn)度。 2. 光譜成像： 支持單次掃描實(shí)現多種材料的區分，大幅提升效率和材料分析的精確度。 適用于需要高靈敏度的多材料檢測場(chǎng)景。 3. 適用領(lǐng)域： 工業(yè)中的材料分析和組件檢測（例如航空航天、建筑與安防領(lǐng)域）。 科研中用于更精細的結構研究和復雜樣品的無(wú)損分析。 其它優(yōu)勢 1. 與傳統X射線(xiàn)或掃描電子顯微鏡（SEM）系統相比，能夠更好地展示精細特征，同時(shí)確保材料的完整性。 2. 支持雙能X射線(xiàn)成像功能，一次掃描可獲取三張圖像，無(wú)運動(dòng)偽影，大大提高了生產(chǎn)力和分析效率。 inCiTe 2.0系統具有雙探測器的兼容設計和用戶(hù)友好的操作界面，必將成為學(xué)術(shù)和工業(yè)領(lǐng)域的理想解決方案。
【新品發(fā)布】InCiTe 2.0立式Micro CT
【概要描述】
加拿大KA Imaging公司近期研發(fā)推出的inCiTe 2.0立式3D X射線(xiàn)顯微鏡（Micro CT）是一款先進(jìn)的微型計算機斷層掃描系統，專(zhuān)為科研和工業(yè)應用而設計，能夠提供高分辨率、高細節的非破壞性檢測成像。該設備具有兩種X射線(xiàn)探測器選項：BrillianSe直接轉換探測器或Reveal平板探測器，采用可更換的模塊化設計，實(shí)現創(chuàng )新的相位對比成像或光譜成像功能。
特點(diǎn)和應用
1. 相襯成像：
適用于低密度材料或細微結構差異的檢測，例如聚合物或生物組織。
提高了傳統X射線(xiàn)技術(shù)難以捕捉的細節可見(jiàn)度。
2. 光譜成像：
支持單次掃描實(shí)現多種材料的區分，大幅提升效率和材料分析的精確度。
適用于需要高靈敏度的多材料檢測場(chǎng)景。
3. 適用領(lǐng)域：
工業(yè)中的材料分析和組件檢測（例如航空航天、建筑與安防領(lǐng)域）。
科研中用于更精細的結構研究和復雜樣品的無(wú)損分析。
其它優(yōu)勢
1. 與傳統X射線(xiàn)或掃描電子顯微鏡（SEM）系統相比，能夠更好地展示精細特征，同時(shí)確保材料的完整性。
2. 支持雙能X射線(xiàn)成像功能，一次掃描可獲取三張圖像，無(wú)運動(dòng)偽影，大大提高了生產(chǎn)力和分析效率。
inCiTe 2.0系統具有雙探測器的兼容設計和用戶(hù)友好的操作界面，必將成為學(xué)術(shù)和工業(yè)領(lǐng)域的理想解決方案。
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詳情
加拿大KA Imaging公司近期研發(fā)推出的inCiTe 2.0立式3D X射線(xiàn)顯微鏡（Micro CT）是一款先進(jìn)的微型計算機斷層掃描系統，專(zhuān)為科研和工業(yè)應用而設計，能夠提供高分辨率、高細節的非破壞性檢測成像。該設備具有兩種X射線(xiàn)探測器選項：BrillianSe直接轉換探測器或Reveal平板探測器，采用可更換的模塊化設計，實(shí)現創(chuàng )新的相位對比成像或光譜成像功能。
特點(diǎn)和應用
1. 相襯成像：
適用于低密度材料或細微結構差異的檢測，例如聚合物或生物組織。
提高了傳統X射線(xiàn)技術(shù)難以捕捉的細節可見(jiàn)度。
2. 光譜成像：
支持單次掃描實(shí)現多種材料的區分，大幅提升效率和材料分析的精確度。
適用于需要高靈敏度的多材料檢測場(chǎng)景。
3. 適用領(lǐng)域：
工業(yè)中的材料分析和組件檢測（例如航空航天、建筑與安防領(lǐng)域）。
科研中用于更精細的結構研究和復雜樣品的無(wú)損分析。
其它優(yōu)勢
1. 與傳統X射線(xiàn)或掃描電子顯微鏡（SEM）系統相比，能夠更好地展示精細特征，同時(shí)確保材料的完整性。
2. 支持雙能X射線(xiàn)成像功能，一次掃描可獲取三張圖像，無(wú)運動(dòng)偽影，大大提高了生產(chǎn)力和分析效率。
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